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而一般情况下

2020-05-01 22:29

不论怎么说,一旦孕妇患有急性病症而且必须通过x线检查才能作出诊断时,还是应该从孕妇的安全出发,采取必要的检查手段,待病情稳定后再考虑孩子的问题。而一般情况下,怀孕早期应该绝对禁止接受x线照射以及其他的电离辐射(如物理治疗等),否则可能造成胚胎异常而致孩子智力障碍。

脑损伤可以引起惊厥,惊厥发作也可造成脑损伤。有人证明,一次惊厥发作对近记忆力有一过性影响,相当于脑震荡所致损害;惊厥持续状态可产生严重脑损害,而致智力低下。因为在惊厥性放电时,脑组织有大量的神经元发生快速、反复的脂除极化,需较多的能量维持钠钾泵的功能,神经递质的合成与释放也增加,细胞代谢过程加快,而且惊厥时体温升高,肌肉抽搐也使全身代谢增加,高热可使动物脑代谢增加25%,这些活动所需能量比正常高出2~4倍。脑的异常放电活动即惊厥放电本身对能量的需要也明显增加,这也是引起脑损伤的一个重要原因。所以惊厥给脑造成了最大的代谢负担。

总之热性惊厥之前如已有神经系统异常,可能导致将来的智力低下,严重惊厥本身也能引起脑损伤而影响智力。

热性惊厥为小儿惊厥中最常见的一种,预后一般良好,引起智力低下的发生率很低,这是因为一般单纯性热性惊厥,发作次数少、时间短、恢复快、无异常神经征,因此惊厥发作时对大脑的影响较少。但是其中有少数患者可以引起智力低下,目前对此有两种解释,一种认为严重的热性惊厥可以引起脑损伤,以致出现癫痫及智力低下,这是指惊厥持续时间越长,惊厥复发次数越多,出现脑损伤的可能性就越大。另一种观点认为,在热性惊厥前,神经系统已出现异常,这种小儿即使不发生热性惊厥也会出现智力低下,即认为热性惊厥病儿的神经系统症状并非惊厥本身所致,而是存在于热性惊厥起病之前,热性惊厥与智力低下并非因果关系,而是共同原因所决定的。

另外惊厥引起脑损伤和年龄也有密切关系。小儿惊厥持续30分钟以上就可以产生神经元缺血性改变,而成人惊厥超过6小时才发生这种改变。这是因为婴幼儿时期脑组织代谢活跃,神经细胞处于生长、分化旺盛时期,正在发育的脑组织最易受损害,所以惊厥发病年龄越早,其智力低下的发生率可能会越高。

有人证明,一次惊厥发作对近记忆力有一过性影响,相当于脑震荡所致损害。惊厥持续状态可产生严重脑损害,而致智力低下。因为在惊厥性放电时,脑组织有大量的神经元发生快速、反复的脂除极化,需较多的能量维持钠钾泵的功能,神经递质的合成与释放也增加,细胞代谢过程加快......

早已证实,孕妇在胚胎器官发生的敏感期(妊娠3~8周)接受过大剂量的x线照射,不仅可以使胚胎发育迟缓,骨骼畸形,甚至可造成流产或死胎。12周以后虽然大部分器官已经形成,但牙齿、生殖腺及中枢神经系统还在继续发育中,对于接受x线以后的反应也很难肯定。故作为妊娠妇女,常规体格检查的胸部透视现在都主张应该推迟到妊娠7个月以后再进行。美国芝加哥产院曾在1948年对1000名怀孕晚期的孕妇进行x线摄片骨盆测量,19年后随访这些孕妇所生的子女,并没有发现智力低下和神经系统的疾病,说明妊娠晚期作x线摄片对胎儿无不良影响。但是,从剂量大小来讲,摄片却比透视所带给胎儿的影响更小。所以,如果需要用x线来判断母亲或胎儿是否存在一些异常情况时,倾向于选择拍片。